Rui Kang

• Artículos de revistas (3)

• Artículos de revistas

  • Coupling damage and reliability modeling for creep and fatigue of solder joint

    Yunxia Chen, Yi Jin, Rui Kang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 75, 2017, págs. 233-238

    • Resumen
    

  • Service reliability modeling and evaluation of active-active cloud data center based on the IT infrastructure

    Xiaoyan Li, Yue Liu, Rui Kang, Lianghua Xiao

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 75, 2017, págs. 271-282

    • Resumen
    

  • An optimal evaluating method for uncertainty metrics in reliability based on uncertain data envelopment analysis

    Tianpei Zu, Meilin Wen, Rui Kang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 75, 2017, págs. 283-287

    • Resumen
    

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