InstitucionesPeriodo de publicación recogido
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A method for fault diagnosis of nonlinear circuits.
Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 38, Nº 6, 2019, págs. 47-58
Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 72, 2017, págs. 90-97
Analysis of transistor circuits having multiple DC solutions with the thermal constraint
Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas
Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 30, Nº 4 (Special Issue: ISTET 2009), 2011, págs. 1350-1362
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