Periodo de publicación recogido
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Effective work-function control technique applicable to p-type FinFET high-k/metal gate devices
Shimpei Yamaguchi, Zeynel Bayindir, Xiaoli He, Suresh Uppal, Purushothaman Srinivasan, Chloe Yong, Dongil Choi, Manoj Joshi, Hyuck Soo Yang, Owen Hu, Srikanth Samavedam, D.K. Sohn
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 72, 2017, págs. 80-84
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