Periodo de publicación recogido
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Nonparametric Change-Point Detection for Profiles with Binary Data
Yanfen Shang, Zhiqiong Wand, Zhen He, Shuguang He
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 49, 2, 2017, págs. 123-135
Nonparametric Change-Point Detection for Profiles with Binary Data
Yanfen Shang, Zhiqiong Wand, Zhen He, Shuguang He
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Vol. 49, Nº. 2, 2017, págs. 123-135
Profile Monitoring with Binary Data and Random Predictors
Yanfen Shang, Fugee Tsung, Changliang Zou
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Vol. 43, Nº. 3, 2011, págs. 196-208
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