Periodo de publicación recogido
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Measurement System Analysis for Binary Inspection: Continuous Versus Dichotomous Measurands
Jeroen De Mast, Tashi P. Erdmann, Wessel N. Van Wieringen
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Vol. 43, Nº. 2, 2011, págs. 99-112
Measurement System Analysis for Categorical Measurements: Agreement and Kappa-Type Indices
Jeroen De Mast, Wessel N. Van Wieringen
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Vol. 39, Nº. 3, 2007, págs. 191-202
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