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Análisis de robustez ante variaciones de proceso en amplificadores CMOS integrados de bajo ruido
Jorge Luís González Ríos, Juan Carlos Cruz Hurtado, Robson L. Moreno, Diego Vázquez García de la Vega
Revista Científica de Ingeniería Electrónica, Automática y Comunicaciones, ISSN-e 0258-5944, ISSN 1815-5928, Vol. 37, Nº. 1, 2016, págs. 1-8
Jorge Luís González Ríos, Robson L. Moreno, Diego Vázquez García de la Vega
Revista Científica de Ingeniería Electrónica, Automática y Comunicaciones, ISSN-e 0258-5944, ISSN 1815-5928, Vol. 36, Nº. 3, 2015, págs. 1-12
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