Periodo de publicación recogido
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Hongqiang Zhang, Zhenyu Zhao, Guisheng Zou, Wengan Wang, Lei Liu, Gong Zhang, Y. Zhou
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 94, 2019, págs. 46-55
Huakai Shao, Aiping Wu, Yudian Bao, Yue Zhao, Guisheng Zou, Lei Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 91-1, 2018, págs. 38-45
Zhenyu Zhao, Lei Liu, Hyun Seok Choi, Jian Cai, Qian Wang, Yuming Wang, Guisheng Zou
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 60, 2016, págs. 126-134
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