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Cause Reduction for Quick Testing
Alex Groce, Amin Alipour, Chaoqiang Zhang, Yang Chen, John Regehr
IEEE Seventh International Conference on Software Testing, Verification and Validation. 31 March�4 April 2014 Cleveland, Ohio, USA / coord. por Brian P. Robinson, Claes Wohlin, Laurie Williams, 2014, ISBN 9780769551852, págs. 243-252
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