Periodo de publicación recogido
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IOC-LP: hybrid test data compression/decompression scheme for low power testing
S. Kang, Y. Kim, S. Chun, M. H. Yang
IEE Proceedings: Circuits, devices and systems, ISSN 1350-2409, Vol. 153, Nº 4, 2006, págs. 391-398
Efficient BIST scheme for A/D converters
D. Song, S. Kang, K. Kim, Y. Kim, Y. S. Shin
IEE Proceedings: Circuits, devices and systems, ISSN 1350-2409, Vol. 152, Nº 6, 2005, págs. 597-604
Efficient path-delay fault simulation for standard scan design
S. Kang
IEE Proceedings: Circuits, devices and systems, ISSN 1350-2409, Vol. 149, Nº 149, 2002, págs. 315-320
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