Instituciones
Periodo de publicación recogido
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Alexander Ruden Muñoz
Scientia et Technica, ISSN 0122-1701, Vol. 23, Nº. 3, 2018, págs. 420-425
Influence of Si Atoms Insertion on the Formation of the Ti-Si-N Composite by DFT Simulation
Juan Manuel González Carmona, Johans Steeven Restrepo, Carolina Ortega Portilla, Alexander Ruden Muñoz, Federico Sequeda Osorio
Ingeniería y ciencia, ISSN-e 1794-9165, Vol. 12, Nº. 23, 2016, págs. 11-23
Diana Alexandra Gomez, Alexander Ruden Muñoz, Juan Manuel Gonzalez, Federico Sequeda Osorio
Scientia et Technica, ISSN 0122-1701, Vol. 20, Nº. 2, 2015, págs. 97-104
Jhonattan De La Roche Yepes, Juan Manuel González Carmona, Alexander Ruden Muñoz, Elisabeth Restrepo Parra, Federico Sequeda Osorio
DYNA: revista de la Facultad de Minas. Universidad Nacional de Colombia. Sede Medellín, ISSN 0012-7353, Vol. 80, Nº. 178, 2013, págs. 115-122
Simulación computacional de la estructura FCC del CrN
Alexander Ruden Muñoz, Juan Manuel González Carmona, Elisabeth Restrepo Parra
Informador técnico, ISSN 0122-056X, ISSN-e 2256-5035, Vol. 77, Nº. 1, 2013, págs. 11-16
Alexander Ruden Muñoz, Juan Manuel González Carmona, Wilmar Calderón, Neusa Alonso Falleiros, Federico Sequeda Osorio
Informador técnico, ISSN 0122-056X, ISSN-e 2256-5035, Nº. 75, 2011, págs. 5-10
Diana Alexandra Gómez Hernández, Paola Alejandra Jurado Ortiz, Jonathan de la Roche Yepes, Alexander Ruden Muñoz, Juan Manuel García González, Federico Sequeda Osorio
Informador técnico, ISSN 0122-056X, ISSN-e 2256-5035, Nº. 74, 2010, págs. 39-43
Thomas W. Scharf, F. Sequeda, Juan Manuel González Carmona, Alexander Ruden Muñoz, Johan Restrepo
Ingeniería y ciencia, ISSN-e 1794-9165, Vol. 6, Nº. 11, 2010, págs. 159-176
Conductividad ac y procesos de relajacion en nd0.5ca05mno3.
Jesús Fabian Jurado, Carlos Vargas Hernández, Alexander Ruden Muñoz
Scientia et Technica, ISSN 0122-1701, Vol. 1, Nº. 30, 2006, págs. 345-348
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