Periodo de publicación recogido
|
|
|
Calculation of the uncertainty of the mean of autocorrelated measurements
Nien Fan Zhang
Metrologia: International journal of scientific metrology, ISSN 0026-1394, Vol. 43, Nº 4, 2006 (Ejemplar dedicado a: Statistical and Probabilistic Methods for Metrology), págs. 276-281
The uncertainty associated with the weighted mean of measurement data
Nien Fan Zhang
Metrologia: International journal of scientific metrology, ISSN 0026-1394, Vol. 43, Nº 3, 2006, págs. 195-204
A. Hornikova, M. J. Welch, Nien Fan Zhang
Metrologia: International journal of scientific metrology, ISSN 0026-1394, Vol. 43, Nº 3, 2006, págs. 205-212
Statistical analysis for multiple artefact problem in key comparisons with linear trends
W. E. Strawderman, Nien Fan Zhang
Metrologia: International journal of scientific metrology, ISSN 0026-1394, Vol. 43, Nº 1, 2006, págs. 21-26
Spectral density-based statistical measures for image sharpness
A. E. Vladar, M. T. Postek, R. D. Larrabee, Nien Fan Zhang
Metrologia: International journal of scientific metrology, ISSN 0026-1394, Vol. 42, Nº 5, 2005, págs. 351-359
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados