Periodo de publicación recogido
|
|
|
Life-time estimation of high-power blue light-emitting diode chips.
J.-M. Kang, J.-W. Kim, J.-H. Choi, D.-H. Kim, H. K. Kwon
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1231-1235
J.-W. Yoon, H.-S. Chun, B.-I. Noh, J.-M. Koo, J.-W. Kim, H.-J. Lee, S.-B. Jung
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 11-12, 2008, págs. 1857-1863
Effect of high-speed loading conditions on the fracture mode of the BGA solder joint.
J.-W. Kim, J.-K. Jang, S.-O. Ha, S.-S. Ha, D.-G. Kim, S.-B. Jung
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 11-12, 2008, págs. 1882-1889
Y. L. Choi, J. Y. Kim, Mi Jeong Kwon, J.-S. Choi, J.-W. Kim, D.-S. Bae, S.S. Koh, Y.-H. In, Y.W. Park, T.-J. Kim, G.H. Ahn, Y. K. Shin
Histology and histopathology: cellular and molecular biology, ISSN-e 1699-5848, ISSN 0213-3911, Vol. 22, Nº. 11, 2007, págs. 1185-1195
Expression of TGF-ß signaling proteins in normal placenta and gestational trophoblastic disease
Y. H. Xuan, G.H. Ahn, Y. L. Choi, H. C. Lee, Y. K. Shin, K. H. Kim, J.-W. Kim, S. H. Kim
Histology and histopathology: cellular and molecular biology, ISSN-e 1699-5848, ISSN 0213-3911, Vol. 22, Nº. 3, 2007, págs. 227-234
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados