Periodo de publicación recogido
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Evidence for causality between GaN RF HEMT degradation and the EC-0.57 eV trap in GaN
A.R. Arehart, A. Sasikumar, G.D. Via, B. Poling, E.R. Heller, S.A. Ringel
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 56, 2016, págs. 45-48
E.R. Heller, Apolinar Crespo
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 1, 2008, págs. 45-50
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