Periodo de publicación recogido
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Wei Zhang, Ye Tian, Luis A. Escobar, William Q. Meeker
Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 59, Nº. 2, 2017, págs. 202-214
Methods for Planning Repeated Measures Degradation Studies.
Brian P. Weaver, William Q. Meeker, Luis A. Escobar, Joanne Wendelberger
Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 55, Nº. 2, 2013, págs. 122-134
Using Accelerated Life Tests Results to Predict Product Field Reliability.
William Q. Meeker, Luis A. Escobar, Yili Hong
Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 51, Nº. 2, 2009, págs. 146-161
Accelerated Destructive Degradation Test Planning.
Ying Shi, Luis A. Escobar, William Q. Meeker
Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 51, Nº. 1, 2009, págs. 1-13
Avoiding Problems With Normal Approximation Confidence Intervals for probabilities.
Yili Hong, William Q. Meeker, Luis A. Escobar
Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 50, Nº. 1, 2008, págs. 64-68
A Review of Accelerated Test Models.
Luis A. Escobar, William Q. Meeker
Statistical science, ISSN 0883-4237, Nº. 4, 2006, págs. 552-577
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