B. Vermeersch

• Artículos de revistas (3)

• Artículos de revistas

  • Dependency of thermal spreading resistance on convective heat transfer coefficient.

    B. Vermeersch, G. de Mey

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 5, 2008, págs. 734-738

    

  • Influence of thermal contact resistance on thermal impedance of microelectronic structures.

    B. Vermeersch, G. de Mey

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 8, 2007, págs. 1233-1238

    

  • Influence of substrate thickness on thermal impedance of microelectronic structures.

    B. Vermeersch, G. de Mey

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 2-3, 2007, págs. 437-443

    

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