InstitucionesAclaración de materia/profesión
Periodo de publicación recogido
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Methods Employed in Optical Emission Spectroscopy Analysis: a review
D. M. Devia, L. V. Rodriguez-Restrepo, E. Restrepo Parra
Ingeniería y ciencia, ISSN-e 1794-9165, Vol. 11, Nº. 21, 2015 (Ejemplar dedicado a: 10 años), págs. 239-267
D. M. Devia, E. Restrepo Parra, J M Vélez Restrepo
Ingeniería y ciencia, ISSN-e 1794-9165, Vol. 10, Nº. 20, 2014 (Ejemplar dedicado a: julio-diciembre), págs. 51-64
Influencia de la temperatura del sustrato en la microestructura de recubrimientos de TiN/TiC
D. M. Devia, F. Mesa, P. J. Arango
Ingeniería y ciencia, ISSN-e 1794-9165, Vol. 7, Nº. 14, 2011, págs. 71-82
Descripción de celdas fcc para películas delgadas de TiAlN por métodos computacionales
A.M. Muñoz, J.F. López, A. Ruden, D. M. Devia, V.J. Benavides, J.M. González, Alfonso Devia Cubillos
Revista de la Sociedad Colombiana de Física, ISSN-e 0120-2650, Vol. 39, Nº. 1, 2007, págs. 139-142
D. Vargas, D. M. Devia, J. P. Mejía, H. Castillo, E. Restrepo
Revista de la Sociedad Colombiana de Física, ISSN-e 0120-2650, Vol. 38, Nº. 4, 2006, págs. 1451-1454
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