Periodo de publicación recogido
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Characterization of Low Drop-Out during ageing and design for yield
R. Lajmi, F. Cacho, Eric Lauga, S. Bourdel, P. Benech, V. Huard, X. Federspiel
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 92-96
Design method for CMOS current-source modes power amplifiers based on PAE optimization
H. ©lemy, N. Dehaese, Y. Bachelet, S. Bourdel, J. Gaubert
Analog integrated circuits and signal processing: An international journal, ISSN 0925-1030, Vol. 49, Nº 2, 2006, págs. 167-170
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