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José Leal Gil, Francisco Rogelio Palomo Pinto, Alfredo Pérez Vega-Leal
Revista española de electrónica, ISSN 0482-6396, Nº 618, 2006, págs. 66-67
Test de eventos singulares para microelectrónica digital en España
Francisco Rogelio Palomo Pinto
Tesis doctoral dirigida por Miguel Ángel Aguirre (dir. tes.). Universidad de Sevilla (2012).
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