Periodo de publicación recogido
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Field- and current-driven degradation of GaN-based power HEMTs with p-GaN gate: Dependence on Mg-doping level
I. Rossetto, M. Meneghini, E. Canato, M. Barbato, Steve Stoffels, N. Posthuma, S. Decoutere, A.N. Tallarico, G. Meneghesso, E. Zanoni
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 298-303
Long-term stresses on linear micromirrors for pico projector application
Morena Silvestrini, M. Barbato, S. Costantini, L. Castoldi, F. Vercesi, L. Zanotti, G. Meneghesso
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 626-630
Alessandro Zona, M. Barbato, J. P. Conte
Journal of engineering mechanics, ISSN 0733-9399, Nº. 11, 2005, págs. 1126-1139
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