Periodo de publicación recogido
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S. Kim, W. Yuan, H. R. Fetterman
Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 48, Nº. 3, 2006, págs. 415-418
Accuracy Investigation of the Wire-Grid Model in EM Scattering Analysis with the MoM
W. Yuan
Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 46, Nº. 3, 2005, págs. 259-263
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