Periodo de publicación recogido
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Failure analysis of contact probe pins for SnPb and Sn applications.
C. Jang, S. Park, B. Infantolino, L. Lehman, R. Morgan, D. Sengupta
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 6, 2008, págs. 942-947
Sobreviviendo a la competencia global moldeando productos en sistemas de bajo costo
R. Morgan
Revista de plásticos modernos: Ciencia y tecnología de polímeros, ISSN 0034-8708, Nº. 590, 2005, págs. 116-117
R. Morgan
Revista de plásticos modernos: Ciencia y tecnología de polímeros, ISSN 0034-8708, Nº. 589, 2005, págs. 8-10
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