T. Zimmer

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • Random telegraph noise in SiGe HBTs: Reliability analysis close to SOA limit

    C. Mukherjee, T. Jacquet, A. Chakravorty, T. Zimmer, J. Boeck, Klaus Aufinger, C. Maneux

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 73, 2017, págs. 146-152

    • Resumen
    

  • An Analog Circuit Fault Characterization Methodology

    Y. Maidon, T. Zimmer, A. Ivanov

    Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 2, 2005, págs. 127-134

    

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