An electronic structure study of La<sub>8-x</sub>Sr<sub>x</sub>Cu<sub>8</sub>O<sub>20-¿</sub> (8820) single crystal using polarized X-ray absorption spectroscopy
- Autores: S. Dalela, H.J. Lin, S.K. Gaur, R.K. Singhal, N.L. Saini, C.T. Chen, K.B. Garg
- Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 132, Nº. 3, 2004, págs. 279-283
- Idioma: inglés
- Texto completo no disponible (Saber más ...)
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