Three-dimensional deformation measurement from the combination of in-plane and out-of-plane electronic speckle pattern interferometers

• Autores: R. Rodríguez Vera, A. Martinez, J. A. Rayas
• Localización: Applied optics: A publication of the Optical Society of America, ISSN 0003-6935, Nº. 24, 2004, págs. 4652-4658
• Idioma: inglés
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