On High-Quality, Low Energy Built-In Self Test Preparation at RT-Level

• Autores: J. P. Teixeira, M. B. Santos, I. C. Teixeira
• Localización: Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 4, 2004, págs. 345-355
• Idioma: inglés
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