Modeling irradiation-induced charging-annealing dynamics in metal-oxide-semiconductor devices

• Faigón ^[1] ; A. Cedola ^[1] ; E.G. Redin ^[1] ; G. Kruszenski ^[1] ; J. Lopez ^[1] ; M. Maestri ^[1] ; J. Lipovetzky ^[1] ; A. Docters ^[2]
  1. [1] Universidad de Buenos Aires

     Universidad de Buenos Aires

     Argentina

     
  2. [2] Planta de Irradiación Semi-Industrial - Centro Atómico Ezeiza - CONEA
• Localización: Recent Advances in Multidisciplinary Applied Physics: Proceedings of the First International Meeting on Applied Physics (APHYS-2003) October 13-18th 2003, Badajoz, Spain / A. Méndez Vilas (dir.), Formatex Research Center (dir.), 2005, ISBN 978-0-08-044648-6, págs. 841-847
• Idioma: español
• Texto completo no disponible (Saber más ...)