Fast profile measurement of micrometer-sized tapered fibers with better than 50-nm accuracy

• Autores: F. Warken, H. Giessen
• Localización: Optics letters: A publication of the Optical Society of America, ISSN 0146-9592, Nº. 15, 2004, págs. 1727-1729
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)