Effects of wall random roughness on TE and TM modes in a hollow conducting waveguide

• Autores: Ulises Ruíz-Corona, Rafael Espinosa-Luna, Alberto Mendoza-Suárez
• Localización: Optics communications, ISSN 0030-4018, Vol. 238, Nº. 4, 2004, págs. 291-299
• Idioma: inglés
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