A general stability analysis of FIT/FDTD applied to lossy dielectrics and lumped elements

• Autores: F. Edelvik, R. Schuhmann
• Localización: International journal of numerical modelling: Electronic networks, devices and fields, ISSN 0894-3370, Nº. 4, 2004, págs. 407-419
• Idioma: inglés
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