Measurement of Complex Permittivity of Thin Substrates Using the TE~0~1~n Resonant Cavity

• Autores: M.-Y. Chen
• Localización: Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 42, Nº. 4, 2004, págs. 274-277
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)