Determinación experimental de índices de Refracción en Películas Semiconductoras: CDS, TI3O5

• Rodríguez Laura, Sandro ^[1] ; Miculicich Egoavil, Osar ^[1] ; Oliva Chirinos, Christian ^[1] ; Fiorentini, Arturo ^[1] ; Valera Palacios, Aníbal ^[1]
  1. [1] Universidad Nacional de Ingeniería

     Universidad Nacional de Ingeniería

     Perú

     
• Localización: TECNIA, ISSN-e 2309-0413, ISSN 0375-7765, Vol. 11, Nº. 1, 2001
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Experimental determination of refractive indices in semiconducting films: CDS, TI3O5
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  • Texto completo
• Resumen
  • español

    En este trabajo se presenta el resultado de mediciones del índice de refracción en películassemiconductoras de sulfuro de cadmio (CdS) y oxido de titanio (Ti,O,), realizadas por los métodos de: ángulo de reflexión Brewster, espectros de transmisión y efecto de guía de ondas óptica.

  • English

    In this work, we present results of measurements of the refraction index realized withsemiconductors in the form of thin films: cadmium sulfide (CdS) and titan oxide (Ti,O). Theapplied method involves: the determination of the Brewster reflection angle, transmission spectra and optical wave guide effect.