El diodo Schottky como atenuador del efecto Seebeck en una celda Peltier para un control PID de temperatura

• Leal, Jesué ^[1] ; León, Mónica ^[1] ; Sepúlveda, Sergio ^[1]
  1. [1] universidad Francisco de Paula Santander
• Localización: Entre ciencia e ingeniería, ISSN-e 2539-4169, ISSN 1909-8367, Vol. 9, Nº. 18, 2015, págs. 75-83
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • The Schottky diode as attenuator of the Seebeck effect on a Peltier cell for a PID temperature control
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• Resumen
  • español

    En la nanociencia y en la nanotecnología, una de las herramientas más poderosas es el microscopio de fuerza atómica (AFM siglas en inglés). Instrumento que sirve para caracterizar los materiales a nivel superficial. Dentro de esas características está evaluar la dureza a escala manometría (nanodureza), utilizando el método de nanoindentación en el modo de espectroscopia.  En materiales como las películas delgadas en los que sus espesores son del orden de decenas de nanómetros de espesor, el equipo adecuado para medir la dureza es el AFM. En este artículo se pretende realizar una primera aproximación a algunos modelos usados para evaluar la dureza usando el AFM a partir del modelo elástico.

  • English

    In nanotechnology, one of the powerful tools is the atomic force microscope (AFM). Instrument used to characterize materials superficially. Nanoscale hardness (nanohardness) using nanoindentation method spectroscopy mode is considered when evaluating these characteristics. The suitable equipment to measure the hardness in materials such as thin films, with thicknesses on the order of tens of nanometers is the AFM. In this article, the authors propose a first approach to some models used to evaluate the hardness, using the AFM, based on the elastic model.