Propuesta metodológica para caracterizar las áreas expuestas a riesgos tecnológicos mediante SIG, aplicación en la comunidad de Madrid
- Autores: María de los Angeles Díaz Muñoz, Diego González Ferreiro, Joaquín Bosque Sendra, Montserrat Gómez Delgado, Concepción Díaz Castillo
- Localización: Geofocus: Revista Internacional de Ciencia y Tecnología de la Información Geográfica, ISSN-e 1578-5157, Nº. 4, 2004
- Idioma: español
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Resumen
la cartografía de riesgos existen dos componentes de carácter espacial: la definición y caracterización de las áreas expuestas, por una parte y, por otra, el análisis de la vulnerabilidad de la población y el territorio. En este artículo, la atención se centra exclusivamente en el primer componente, la exposición. Se plantea un procedimiento sencillo para establecer las zonas potencialmente expuestas a riesgos tecnológicos en el territorio. Se utilizan para ello las funciones de cálculo de distancias de un SIG, lo que permite determinar tres variables: zonas expuestas a algún riesgo, la intensidad de la exposición a riesgos en cada punto y la ¿probabilidad espacial¿ de ser afectado por un algún peligro de tipo tecnológico en la Comunidad de Madrid (España).
