Defect-induced structural disorder in tetragonal Cu(In~1~-~xGa~x)~5Se~8 thin films investigated by Raman spectroscopy: the effect of Ga addition

• Autores: C.-M. Xu, W.-H. Huang
• Localización: Journal of physics: Condensed matter, ISSN 0953-8984, Nº. 23, 2004, págs. 4149-4156
• Idioma: inglés
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