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Resumen de New organic platform to integrated photonic device fabrication

Gustavo A. Torchia, Cristina Elena Hoppe, C.A.T. Laia, A. Jorge Parola, Gines Lifante Pedrola

  • español

    En este trabajo se presenta una nueva plataforma tecnológica para el desarrollo de circuitos ópticos integrados para aplicaciones en fotónica. La misma se basa en materiales poliméricos supramoleculares cuyo comportamiento se asemeja al de los conocidos como vitrímeros. Éstos fueron sintetizados por reacción entre diglicidil éter de bisfenol A (DGEBA), y distintas n-alquilaminas. Se presentan las características fotónicas de películas delgadas fabricadas a partir de estos sistemas poliméricos mediante la técnica de spin coating sobre substratos de vidrio comerciales. Se muestran y analizan, también, las curvas de reflectividad de luz láser acoplada en las películas mediante un prisma de alto índice de refracción. A partir de estos resultados, las películas delgadas muestran modos guiados en ambas polarizaciones (TE-TM) para radiación electromagnética en el rango UV-visible. Asimismo, a partir de los datos experimentales, se determinan el índice de refracción y espesor de las películas exploradas.

  • English

    This paper presents a new technological platform for the development of integrated optical circuits for applications in photonics. It is based on supramolecular polymeric materials whose behaviour resembles that of those known as vitrimers. These were synthesized by reaction between diglycidyl ether of bisphenol A (DGEBA) and different n-alkylamines. The photonic characteristics of thin films made from these polymeric systems using the spin coating technique on commercial glass substrates are presented. The reflectivity curves of coupled laser light in the films through a high refractive index prism are also shown and analysed. From these results, thin films show guided modes in both polarizations (TE-TM) for electromagnetic radiation in the UV-visible range. Likewise, from the experimental data, the refractive index and thickness of the explored films are determined.


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