Erratum to ¿Antiresonant ring interferometry as a sensitive technique for measuring nonlinear optical properties of thin films¿ [Opt. Commun. 233 (2004) 297]

• Autores: B.P. Singh, Parinda Vasa, Praveen Taneja, Pushan Ayyub
• Localización: Optics communications, ISSN 0030-4018, Vol. 237, Nº. 4, 2004, pág. 451
• Idioma: inglés
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