Characterization of Interlayer Cs⁺ in Clay Samples Using Secondary Ion Mass Spectrometry with Laser Sample Modification

• Autores: G. S. Groenewold, J. Sunner, A. K. Gianotto, M. M. Cortez, W. L. Manner, K. Lefebre, C. Karahan, R. Avci, R. V. Fox
• Localización: Analytical chemistry, ISSN 0003-2700, Nº. 10, 2004, págs. 2893-2901
• Idioma: inglés
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