Madrid, España
Se presenta un método sencillo para la determinación simultánea de los parámetros: índice de refracción y espesor de una lámina plano—paralela dieléctrica, homogénea e isótropa, a partir de la observación de los fenómenos que se manifiestan en la luz difusa, proviniendo de un haz láser.
In this work treated comprehensivelv a method for simultaneous determination of the parameters: refractive index and thickness of plane—parallel plate, dielectric, homogeneous, and isotropic, have been made by means of diffuse light of laser beam.
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