Propiedades ópticas y eléctricas de películas delgadas de trisulfuro de molibdeno (Mo2S3)

• M.I. El-Agrab ^[1] ; A. M. Ibrahim ^[1] ; G.M. Youssef ^[1] ; A.A. Mohamed ^[1]
  1. [1] Ain Shams University

     Ain Shams University

     Egipto

     
• Localización: Óptica pura y aplicada, ISSN-e 2171-8814, Vol. 24, Nº. 1, 1991, págs. 29-36
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Electrical and optical properties of thin molybdenum trisulphide (Mo2S3) films
• Enlaces
  • Texto completo (pdf)
• Resumen
  • español

    Se ha investigado la estructura de película delgadas de Mo2S3 de diferentes espesores por medio de difracci6n de rayos X, microscopia electrónica y difracción de electrones. Las películas tienen estructura policristalina. La resistividad y la energía de activación de los portadores de carga mostraban una disminución con el aumento de espesor de la película. Se ha medido la transmitancia en función de la longitud de onda en la región visible. Asimismo se han determinado el índice de absorción, el número de portadores de carga y la anchura del intervalo de energía.

  • English

    The Structure of thin Mo2S3 films of different thicknesses were investigated by X—ray diffraction analysis as well as by transmission electron microscopy and electron diffraction techniques. The films have polycrystalline structure. The resistivity and the activation energy of charge carriers showed a decrease with increasing film thickness. The transmittance was measured as a function of wavelength in the visible region. The absorption index, the number of charge carriers and the energy gap width were also determined.