ANALYSIS OF EXTENDING THE FIELD-OF-VIEW OF REVERSE-MICROSCOPE IMAGING SYSTEM AT MILLIMETER-WAVELENGTHS

• Autores: W. B. Dou, J. H. Pan, X. D. Deng
• Localización: Journal of electromagnetic waves and applications, ISSN 0920-5071, Nº. 4, 2004, págs. 469-479
• Idioma: inglés
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