USING TUNABLE COHERENT REFLECTOMETRY TO OPTIMIZE ER-DOPED L-BAN AMPLIFIERS

• Autores: M. B. C. e Silva, J. P. von der Weid
• Localización: Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 40, Nº. 3, 2004, págs. 213-215
• Idioma: inglés
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