Estudio comparativo entre métodos de topometría de precisión y fotogrametría de objeto cercano en aplicaciones industriales

• Autores: Emilio Mata de Castro, Mª Ángeles Hernández Caro, F. Javier Cardenal Escarcena
• Localización: XIV Congreso Internacional de Ingeniería gráfica: Santander, 2002, actas de congreso 5,6 y 7 de junio, 2002, págs. 466-475
• Idioma: español
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