Extending Feature Decay Algorithms Using Alignment Entropy

• Autores: Alberto Poncelas, Andy Way, Antonio Toral Ruiz
• Localización: Future and Emerging Trends in Language Technology. Machine Learning and Big Data: Second International Workshop, FETLT 2016, Seville, Spain, November 30 –December 2, 2016, Revised Selected Papers / José Francisco Quesada Moreno (ed. lit.), Francisco Jesús Martín Mateos (ed. lit.), María Teresa López Soto (ed. lit.), 2017, ISBN 978-3-319-69364-4, págs. 170-182
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)