Topographic profiling and refractive-index analysis by use of differential interference contrast with bright-field intensity and atomic force imaging

• Autores: N. Axelrod
• Localización: Applied optics: A publication of the Optical Society of America, ISSN 0003-6935, Nº. 11, 2004, págs. 2272-2284
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)