Scalable Delay Fault BIST for Use with Low-Cost ATE

• Autores: I. Polian, B. Becker
• Localización: Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 2, 2004, págs. 181-197
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)