Excess relative risk models: application to CT scan studies, software and new methods

• M. Higueras ^[1] ; R.W. Harbron ^[2] ; M.S. Pearce ^[2]
  1. [1] Basque Center for Applied Mathematics

     Basque Center for Applied Mathematics

     Bilbao, España

     
  2. [2] Newcastle University

     Newcastle University

     Reino Unido

     
• Localización: CEB 2017: XVI Spanish Biometric Conference / coord. por Inmaculada Barranco Chamorro, María Dolores Jiménez Gamero, 2017, ISBN 9788447219285, págs. 41-41
• Idioma: español
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