Patent Quality and Research Productivity: Measuring Innovation with Multiple Indicators

• Autores: Jean O. Lanjouw, Mark Schankerman
• Localización: Economic journal, ISSN 0013-0133, Vol. 114, Nº 495, 2004, págs. 441-465
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)
• Dialnet Métricas: 12 Citas