Fatigue crack growth induced by domain switching under electromechanical load in ferroelectrics

• Autores: G.Z. Mao, D.N. Fang
• Localización: Theoretical and applied fracture mechanics, ISSN 0167-8442, Vol. 41, Nº. 1, 2004, págs. 115-123
• Idioma: inglés
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