Reflejos en termografía infrarroja. Nuevo método para la estimación de la emisividad de superficies con acabado especular

• Autores: Rafael Royo Pastor
• Localización: IX Congreso Nacional de Ingeniería Termodinámica: libro de actas. Cartagena, 3 al 5 de junio 2015 / coord. por José Ramón García Cascales, Joaquín Zueco Jordán, 2015, ISBN 978-84-606-8931-7, págs. 657-664
• Idioma: español
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  • Existe mucha confusión sobre el concepto de reflectividad. Es normal suponer que las superficies con reflejo especular tienen una reflectividad alta, y por tanto las que no se comportan como espejo, baja. El objetivo de este trabajo es mostrar de forma práctica que es muy común la existencia de superficies con baja reflectividad pero con reflejo especular, y compararlo con el comportamiento de superficies especulares de alta reflectividad. Por otra parte, se demuestra que es posible medir temperaturas sobre superficies especulares, incluso aunque aparezcan “falsos puntos calientes”. Finalmente se propone un método para determinar la emisividad de superficies especulares con baja emisividad, hasta valores incluso inferiores a 0.1.