Scanning total internal reflection fluorescence microscopy under one-photon and two-photon excitation: image formation

• Autores: J. W. M. Chon
• Localización: Applied optics: A publication of the Optical Society of America, ISSN 0003-6935, Nº. 5, 2004, págs. 1063-1071
• Idioma: inglés
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